电池与太阳能能源检测设备

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多晶硅少子寿命测试仪

产品介绍

HZ-L22多晶硅少子寿命测试仪、少子寿命测试仪、少子寿命测试仪价格、单晶多少子寿命测试仪
一、多金硅少子寿命测试仪产品特点:    
1、可测量太阳能级多晶硅块、单晶硅棒少数载流子体寿命。表面无需抛光,直接对切割面或研磨面进行测量。
2、可测量太阳能级单晶及多晶硅片少数载流子的相对寿命,表面无需抛光、钝化。
3、液晶屏上直接显示少子寿命值,同时显示动态光电导衰退波形。
二、多金硅少子寿命测试仪技术参数:    
配置两种波长的红外光源
1、1.07μm波长红外光源,光穿透硅晶体深度较深≥500μm,有利于准确测量晶体少数载流子体寿命。
2、0.904~0.905μm波长红外脉冲激光器,光穿透硅晶体深度较浅≈30μm,但光强较强,有利于测量低阻太阳能级硅晶体。
三、多金硅少子寿命测试仪 测量范围:
1、研磨或切割面:电阻率≥0.5Ω·㎝的单晶硅棒、定向结晶多晶硅块少子体寿命,切割片的少子相对寿命。
2、抛光面:电阻率在0.1~0.01Ω·㎝范围内的硅单晶、锗单晶抛光片。
四、多金硅少子寿命测试仪寿命可测范围:
1、分体式:2μS—10ms
2、一体式:0.5μS—20ms